HARDWARE

OptoComb Sensors/光コム3次元センサー

高精度・高速検査を実現する3種の光コムセンサー

XTIAの光コム3Dセンサはノーベル賞技術「光コム」を世界で初めて産業応用し実現した製品です。同軸光学系での計測、長いワーキングディスタンス、500kHzでの高速なデータ取得、1μm の高さ分解能により自動検査に理想的な3D計測ソリューションを提供します。インラインへの搭載で凹凸の大きな複雑形状に対する寸法検査・外観検査の自動化を可能とします。

Problem

解決できる問題

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寸法検査
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外観検査
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容積検査

Function

主な機能

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光コム技術を活用して用途に応じた測定を実用化した3Dスキャナー

測定用途に応じて広範囲モデル、高精細モデル、超高精細モデルの3Dスキャナーから構成を選択してお客様の幅拾い要件の実現に役立てます。
 

微細なキズの深さまで測定できる光コム技術

複数のレーザー光を束ねることにより測定対象との正確な距離が測れる光コム技術を活用して
キズの深さも検出可能です。
閾値を設定しキズの深さに応じた欠陥検出も可能となります。

Solution

代表的なソリューション

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Hardware

ハードウェア一覧

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> Optocomb Sensors/光コム3次元センサー

OptoCombの光コム3次元センサーはノーベル賞技術「光コム」を世界で初めて産業応用し実現した製品です。同軸光学系での計測、長いワーキングディスタンス、500kHzでの高速なデータ取得、1μm の高さ分解能により自動検査に理想的な3次元検査ソリューションを提供します。インラインへの搭載で凹凸の大きな複雑形状に対する寸法検査・外観検査の自動化を可能とします。

> OptoComb SA/上面検査装置(標準機)

光コム3次元センサーを活用した3次元検査装置のベースモデルです。XYZのステージによってワーク上面を検査します。凹凸のある鋳造製品の加工面など複雑形状部品の外観、形状、寸法検査が1度の測定で可能です。小型ワークを複数並べての同時検査など幅広い用途で活用できます。

> Optocomb HS/内面検査装置

光コムレーザーを使った高速ヘリカルスキャンで部品内面の検査を高精度で可能にしました。既存の内面検査装置と異なり、1本のスピンドルで幅広い直径に対応。外観、形状、寸法を位置度の測定で自動検査が可能です。汎用的な卓上検査装置からインラインでの全数検査まで対応が可能です。

> OptoComb 360/外周面検査装置

OptoComb 360 は、光コム3次元センサーと回転ステージを組み合わせて対象物を 360° スキャンする独自の検査システムです。このシステムにより、OptoComb は新しい外観検査および寸法検査ソリューションを追加しました、回転対称性を持つスプールやその他の構造の外面を高精度で測定できます。

> OptoComb VM/内面寸法検査装置

光コム3次元センサーと 45° ミラーと組み合わせ、高精度測定と独自の同軸構成を活用し 、穴の内壁や複雑な円筒構造を数秒で検査できます。

> OptoComb Hybrid/ハイブリッド

 12メガピクセルの光学カメラと高精細S40タイプの光コムセンサを搭載したハイブリッド検査ソリューション。カメラによる高速な外観検査と検出した欠陥の光コムでの高精度な3D欠陥情報の取得で中・大型部品の自動検査において短いタクトと欠陥の高精度な解析を両立させる提案が可能となります。

> OptoComb AIC S/画像カメラ×AI搭載 (上面検査装置)

OptoComb SA(上面検査装置)に画像カメラ、AIを搭載したモデルです。画像カメラによる撮像、AIによる欠陥候補の検出を高速で行い、AIで検出した欠陥候補を光コム3次元センサーで測定。測定した箇所はルールベースで3次元定量化を行い、完全な3次元定量検査を高速に実行します。

> OptoComb AIC R/画像カメラ×AI(ロボットアーム)

ロボットアームに画像カメラ、光コム3次元センサー、AIを搭載した自動外観検査の最上位ソリューションです。画像カメラ、AIによる欠陥候補の検出を高速に行い、欠陥候補を光コム3次元センサーで測定します。ロボットアームを活用することで大型複雑形状ワークの多面検査に対応します。

> Optical Comb Generator/光コム発生器

光コム発生器は光コムレーザーを発生させる装置です。研究用途などで光コムレーザーそのものを活用したい場合に最適です。温調付きのため周囲温度に左右されずに安定した光コムレーザーをお使いいただけます。

Specification

製品仕様

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XY分解能

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Z分解能
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測定深度
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ワーキングディスタンス
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スキャン方式
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測定エリア
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その他インフォメーション
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光コム法
白色干渉法 光切断法
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